ADVANTEST A000824B-DED – 高速信号处理模块，半导体行业核心备件，专业之选！

描述

ADVANTEST BGR-022365-A000824B-DED 是爱德万测试（ADVANTEST）专为半导体晶圆级测试和封装测试设计的高性能接口模块，属于 BGR 系列核心产品。作为测试系统与被测设备（DUT）之间的关键枢纽，BGR-022365-A000824B-DED 支持多通道信号传输和高精度电气连接，可无缝集成于 ADVANTEST T2000、T3371 等主流测试平台，构建全自动化半导体测试解决方案。其采用悬臂式探针卡结构，通过弹性金属探针实现与芯片焊盘的稳定接触，接触电阻小于 1Ω，支持 ±0.02mm 定位精度，适用于先进制程芯片的高频、高压测试场景。

BGR-022365-A000824B-DED 内置智能信号调理电路，可同时处理 32 路模拟信号和 64 路数字信号，兼容 ±10V、±5V 等多量程输入输出。模块采用双绞差分信号传输和光电隔离技术，可抵御 1000V/m 电磁干扰（EMI），确保在强噪声环境下信号失真度小于 0.01%。其 IP67 防护等级和 – 40°C 至 85°C 宽温工作范围，可在粉尘、油污及极端温度环境下稳定运行，尤其适合功率半导体、射频芯片等高可靠性测试需求。

ADVANTEST BGR-022365-A000824B-DED

技术规格

参数名称	参数值
产品型号	ADVANTEST BGR-022365-A000824B-DED
制造商	爱德万测试（ADVANTEST）
产品类型	半导体测试接口模块（悬臂式探针卡）
探针类型	钨合金悬臂探针（镀金涂层）
接触力	3-10 克力（可调）
接触电阻	<1Ω
信号传输速率	最高 5GHz
通道数量	32 路模拟 + 64 路数字
接口类型	SMA（射频）、SMB（高速数字）、BNC（低频模拟）
防护等级	IP67（防尘防水）
工作温度	-40°C 至 85°C
存储温度	-50°C 至 100°C
安装方式	标准测试头安装（兼容 ADVANTEST T2000 平台）
外形尺寸	300mm×200mm×50mm
重量	1.2kg
认证	CE、UL、RoHS
寿命	50 万次接触以上

主要特点和优势

高精度信号完整性：

BGR-022365-A000824B-DED 采用 20μm 超细探针尖端和亚微米级对准技术，可适应 0.15mm 以下焊盘间距的高密度芯片测试。其内置动态阻抗匹配电路，可消除信号反射和串扰，确保 5GHz 高频信号传输时的相位误差小于 1°。通过自动校准功能，可实时补偿探针磨损和温度漂移，长期测试精度偏差控制在 ±0.05% FS 以内。

高可靠性与耐用性：

探针采用钨合金材料和镀金涂层，可承受 50 万次以上的接触循环而不失效。模块内置过载保护电路，当负载电流超过 2A 时自动切断输出，避免设备烧毁。其平均无故障时间（MTBF）超过 10 万小时，通过 ATEX 认证的防爆设计可适配危险区域应用。

灵活扩展性与兼容性：

支持模块化扩展，可通过级联ADVANTEST BGR-022365-A000824C 模块将通道数扩展至 256 路，满足多芯片并行测试需求。兼容 PCIe、USB、Ethernet 等主流通信协议，可直接连接主流测试设备，构建混合测试系统。其开放的 API 接口支持 C++、Python 等编程语言，便于用户开发定制化测试算法。

应用领域

半导体晶圆级测试：

在 12 英寸晶圆测试产线中，BGR-022365-A000824B-DED 可同步测试 32 颗芯片，通过集成 ADVANTEST T3371 测试机实现高频射频参数（如 S 参数、噪声系数）的实时采集。其支持探针卡自动清洁功能，可在测试过程中每 1000 次接触后自动进行在线清针，确保测试一致性。

功率器件与汽车电子：

在 IGBT 模块测试中，BGR-022365-A000824B-DED 可承受 1200V 高压和 50A 大电流，配合 ADVANTEST T2000 测试平台完成导通压降、关断时间等关键参数的高精度测量。其宽温适应性（-40°C 至 85°C）可满足车载芯片在极端环境下的可靠性验证需求。

先进封装与系统级测试：

在 Chiplet 封装测试中，BGR-022365-A000824B-DED 可通过高密度探针矩阵实现芯片间互连通道的电气性能测试，支持 HBM（高带宽内存）堆叠结构的信号完整性分析。其兼容 3D 打印定制化探针卡支架，可适应复杂芯片布局的空间限制。

ADVANTEST BGR-022365-A000824B-DED

安装与维护

安装前准备：

安装ADVANTEST BGR-022365-A000824B-DED 前，需使用 ADVANTEST 专用校准工具对探针平面度进行检测，确保探针高度差小于 ±5μm。清洁测试头安装界面，使用扭矩扳手按 1.5N・m 标准紧固模块螺丝。对于高压测试场景，需额外安装 ADVANTEST 隔离器，确保测试安全。

维护建议：

定期检查探针磨损情况，当探针尖端直径磨损超过 20% 时需及时更换。每季度使用高精度万用表校准信号通道阻抗，误差应控制在 ±0.5Ω 以内。若需更换模块，可在测试系统断电后进行插拔，但需注意先断开高压电源，避免电弧损伤。建议每两年进行一次全面功能测试，验证高频信号传输稳定性。